Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Knigob Matieres

Печать /Основная форма/Экспорт (Excel)

Дисциплина: Методы исследования физических свойств полупроводниковых структур

Наименования дисциплин в соответствии со структурой образовательной программы по годам обучения Количество обучающихся, изучающих дисциплину
Обеспечение обучающихся основной учебной и учебно-методической литературой и информационными ресурсами
Перечень и реквизиты литературы (автор, название, год и место издания) или адрес ресурса (не более 5-ти на дисциплину) Количество экз./чел.
Б1 Дисциплины (модули)
Вариативная часть
Методы исследования физических свойств полупроводниковых структур ---
1. Горелик, С. С. Материаловедение полупроводников и диэлектриков : учебник для студ. вузов по напр. 'Материаловедение и технология новых материалов', 'Материаловедение, технологии материалов и покрытий' / С. С. Горелик. — 2-е изд., перераб. и доп. — М. : Изд-во МИСиС, 2003. — 482 с. : ил. + Библиогр.: с. 472-475. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=336223. — ISBN 5-87623-018-7 : руб. 330.00. 1.00
2. Глазов, В. М. Методы исследования свойств жидких металлов и полупроводников / В. М. Глазов. — М. : Металлургия, 1989. — 384 с. : ил. + Библиогр.: с. 357-381. - Предм. указ.: с. 382-384. — ISBN 5-229-00059-7 : руб. 5.70. 0.58
3. Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие для студ. напр. 'Прикладные математика и физика': пер. с англ. / Д. Брандон. — М. : Техносфера, 2004. — 377 с. : ил. + Библиогр. в конце глав. — (Мир материалов и технологий) . — ISBN 5-948360-18-0 : руб. 290.00. 1.00
© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167