Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Knigob Matieres
Печать
/Упрощенная форма/Экспорт (Excel)
Дисциплина: Методы исследования физических свойств полупроводниковых структур
| № | Дисциплина | Кафедра | Цикл | Студ. осен. | Студ. весн. | Курс | Сем. | ||||||
| 1 | Методы исследования физических свойств полупроводниковых структур | Кафедра Материаловедения полупроводников и диэлектриков | Б1 Дисциплины (модули) : Вариативная часть | 0 | 18 | 4 | 8 | ||||||
| № | Учебная литература | Гриф | Год | Экз. | Осенний сем. | Весенний сем. | ∑ КО | ||||||
| Дисц. | Студ. | КО | Дисц. | Студ. | КО | ||||||||
| 1 | Горелик, С. С. Материаловедение полупроводников и диэлектриков : учебник для студ. вузов по напр. 'Материаловедение и технология новых материалов', 'Материаловедение, технологии материалов и покрытий' / С. С. Горелик. — 2-е изд., перераб. и доп. — М. : Изд-во МИСиС, 2003. — 482 с. : ил. + Библиогр.: с. 472-475. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=336223. — ISBN 5-87623-018-7 : руб. 330.00. | 3: Минобразования | 2003 | 193 | 1 | 20 | 1.00 | 2 | 20 | 1.00 | 1.00 | ||
| 2 | Глазов, В. М. Методы исследования свойств жидких металлов и полупроводников / В. М. Глазов. — М. : Металлургия, 1989. — 384 с. : ил. + Библиогр.: с. 357-381. - Предм. указ.: с. 382-384. — ISBN 5-229-00059-7 : руб. 5.70. | 1: Без грифа | 1989 | 3 | 0 | 0 | 1.00 | 1 | 18 | 0.17 | 0.58 | ||
| 3 | Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие для студ. напр. 'Прикладные математика и физика': пер. с англ. / Д. Брандон. — М. : Техносфера, 2004. — 377 с. : ил. + Библиогр. в конце глав. — (Мир материалов и технологий) . — ISBN 5-948360-18-0 : руб. 290.00. | 1: Без грифа | 2004 | 28 | 0 | 0 | 1.00 | 1 | 18 | 1.00 | 1.00 | ||
| Итого по дисциплине : Методы исследования физических свойств полупроводниковых структур | 224 | --- | 0.72 | 0.72 | |||||||||