Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Knigob Matieres

Печать /Основная форма/Экспорт (Excel)

Дисциплина: Методы исследования материалов и структур электроники

Наименования дисциплин в соответствии со структурой образовательной программы по годам обучения Количество обучающихся, изучающих дисциплину
Обеспечение обучающихся основной учебной и учебно-методической литературой и информационными ресурсами
Перечень и реквизиты литературы (автор, название, год и место издания) или адрес ресурса (не более 5-ти на дисциплину) Количество экз./чел.
Методы исследования материалов и структур электроники
Методы исследования материалов и структур электроники 2
1. Герасименко, Н. Н. Кремний - материал наноэлектроники : учеб. пособие для студ. вузов спец. 210600 - 'Нанотехнология' и спец. 210100 - 'Электроника и микроэлектроника' / Н. Н. Герасименко. — М. : Техносфера, 2007. — 351с. : ил. + Библиогр. в конце глав. — (Мир материалов и технологий) : 330р. 1.00
2. Полисан, А. А. Материалы и элементы электронной техники. Расчет режимов термического окисления и диффузии при формировании легированных слоев : практикум / А. А. Полисан. — М. : Учеба, 2007. — 16с. : ил. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=439920. — Пособие МИСиС. 1.00
3. Бублик, В. Т. Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / В. Т. Бублик. — М. : Учеба, 2006. — 93 с. : ил. + Библиогр.: с. 92. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=386139. — (МИСиС, Каф. материаловедения полупроводников). — Пособие МИСиС. 1.00
4. Бублик, В. Т. Методы исследования структуры полупроводников и металлов : учеб. пособие для вузов по спец.- Технология спец. материалов электрон. техники / В. Т. Бублик. — М. : Металлургия, 1978. — 272 . : ил. : 0.95. 1.00
5. Бублик, В. Т. Сборник задач и упражнений по курсу 'Методы исследования структуры' : Учеб. пособие для вузов по спец. 'Физика и технология материалов и компонентов электрон. техники', 'Микроэлектроника и полупроводниковые приборы' / В. Т. Бублик. — М. : Высш. шк., 1988. — 190 с. : ил. + Библиогр.: с. 191 (16 назв.). — ISBN 5-06-001309-X : руб. 0.50. 1.00
© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167