Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Knigob Matieres

Печать /Упрощенная форма/Экспорт (Excel)

Дисциплина: Методы исследования материалов и структур электроники

№ Дисциплина Кафедра Цикл Студ. осен.   Студ. весн. Курс Сем.
1 Методы исследования материалов и структур электроники Кафедра Материаловедения полупроводников и диэлектриков Б1 Дисциплины (модули) : Вариативная часть 2   0 2, 3 4, 5
 
№ Учебная литература Гриф Год Экз. Осенний сем. Весенний сем. ∑ КО
Дисц. Студ. КО Дисц. Студ. КО
1 Герасименко, Н. Н. Кремний - материал наноэлектроники : учеб. пособие для студ. вузов спец. 210600 - 'Нанотехнология' и спец. 210100 - 'Электроника и микроэлектроника' / Н. Н. Герасименко. — М. : Техносфера, 2007. — 351с. : ил. + Библиогр. в конце глав. — (Мир материалов и технологий) : 330р. 2: УМО и НМС 2007 30 1 2 1.00 1 0 1.00 1.00
2 Полисан, А. А. Материалы и элементы электронной техники. Расчет режимов термического окисления и диффузии при формировании легированных слоев : практикум / А. А. Полисан. — М. : Учеба, 2007. — 16с. : ил. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=439920. — Пособие МИСиС. 2: УМО и НМС 2007 50 1 2 1.00 1 0 1.00 1.00
3 Бублик, В. Т. Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / В. Т. Бублик. — М. : Учеба, 2006. — 93 с. : ил. + Библиогр.: с. 92. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=386139. — (МИСиС, Каф. материаловедения полупроводников). — Пособие МИСиС. 2: УМО и НМС 2006 97 1 2 1.00 1 0 1.00 1.00
4 Бублик, В. Т. Методы исследования структуры полупроводников и металлов : учеб. пособие для вузов по спец.- Технология спец. материалов электрон. техники / В. Т. Бублик. — М. : Металлургия, 1978. — 272 . : ил. : 0.95. 3: Минобразования 1978 71 1 2 1.00 1 0 1.00 1.00
5 Бублик, В. Т. Сборник задач и упражнений по курсу 'Методы исследования структуры' : Учеб. пособие для вузов по спец. 'Физика и технология материалов и компонентов электрон. техники', 'Микроэлектроника и полупроводниковые приборы' / В. Т. Бублик. — М. : Высш. шк., 1988. — 190 с. : ил. + Библиогр.: с. 191 (16 назв.). — ISBN 5-06-001309-X : руб. 0.50. 3: Минобразования 1988 169 2 20 1.00 2 18 1.00 1.00
Итого по дисциплине : Методы исследования материалов и структур электроники 417   1.00   --- 1.00
© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167