Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Knigob Matieres
Печать
/Упрощенная форма/Экспорт (Excel)
Дисциплина: Методы исследования материалов и структур электроники
| № | Дисциплина | Кафедра | Цикл | Студ. осен. | Студ. весн. | Курс | Сем. | ||||||
| 1 | Методы исследования материалов и структур электроники | Кафедра Материаловедения полупроводников и диэлектриков | Б1 Дисциплины (модули) : Вариативная часть | 2 | 0 | 2, 3 | 4, 5 | ||||||
| № | Учебная литература | Гриф | Год | Экз. | Осенний сем. | Весенний сем. | ∑ КО | ||||||
| Дисц. | Студ. | КО | Дисц. | Студ. | КО | ||||||||
| 1 | Герасименко, Н. Н. Кремний - материал наноэлектроники : учеб. пособие для студ. вузов спец. 210600 - 'Нанотехнология' и спец. 210100 - 'Электроника и микроэлектроника' / Н. Н. Герасименко. — М. : Техносфера, 2007. — 351с. : ил. + Библиогр. в конце глав. — (Мир материалов и технологий) : 330р. | 2: УМО и НМС | 2007 | 30 | 1 | 2 | 1.00 | 1 | 0 | 1.00 | 1.00 | ||
| 2 | Полисан, А. А. Материалы и элементы электронной техники. Расчет режимов термического окисления и диффузии при формировании легированных слоев : практикум / А. А. Полисан. — М. : Учеба, 2007. — 16с. : ил. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=439920. — Пособие МИСиС. | 2: УМО и НМС | 2007 | 50 | 1 | 2 | 1.00 | 1 | 0 | 1.00 | 1.00 | ||
| 3 | Бублик, В. Т. Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / В. Т. Бублик. — М. : Учеба, 2006. — 93 с. : ил. + Библиогр.: с. 92. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=386139. — (МИСиС, Каф. материаловедения полупроводников). — Пособие МИСиС. | 2: УМО и НМС | 2006 | 97 | 1 | 2 | 1.00 | 1 | 0 | 1.00 | 1.00 | ||
| 4 | Бублик, В. Т. Методы исследования структуры полупроводников и металлов : учеб. пособие для вузов по спец.- Технология спец. материалов электрон. техники / В. Т. Бублик. — М. : Металлургия, 1978. — 272 . : ил. : 0.95. | 3: Минобразования | 1978 | 71 | 1 | 2 | 1.00 | 1 | 0 | 1.00 | 1.00 | ||
| 5 | Бублик, В. Т. Сборник задач и упражнений по курсу 'Методы исследования структуры' : Учеб. пособие для вузов по спец. 'Физика и технология материалов и компонентов электрон. техники', 'Микроэлектроника и полупроводниковые приборы' / В. Т. Бублик. — М. : Высш. шк., 1988. — 190 с. : ил. + Библиогр.: с. 191 (16 назв.). — ISBN 5-06-001309-X : руб. 0.50. | 3: Минобразования | 1988 | 169 | 2 | 20 | 1.00 | 2 | 18 | 1.00 | 1.00 | ||
| Итого по дисциплине : Методы исследования материалов и структур электроники | 417 | 1.00 | --- | 1.00 | |||||||||