Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Knigob Matieres
Печать
/Упрощенная форма/Экспорт (Excel)
Дисциплина: Современные методы диагностики и исследования наногетероструктур
| № | Дисциплина | Кафедра | Цикл | Студ. осен. | Студ. весн. | Курс | Сем. | ||||||
| 1 | Современные методы диагностики и исследования наногетероструктур | Кафедра Материаловедения полупроводников и диэлектриков | Б1 Дисциплины (модули) : Вариативная часть | 0 | 0 | 5 | 9 | ||||||
| № | Учебная литература | Гриф | Год | Экз. | Осенний сем. | Весенний сем. | ∑ КО | ||||||
| Дисц. | Студ. | КО | Дисц. | Студ. | КО | ||||||||
| 1 | Валянский, С. И. Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии : учеб. пособие / С. И. Валянский, Е. К. Наими; ред. Д. Е. Капуткин ; МИСиС, Каф. физики. — М. : Изд-во МИСиС, 2011. — 172с. : рис. + Библиогр.: с. 152-159. - Прил.: с. 171-172. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=507256. — Пособие МИСиС. — ISBN 978-5-87623-460-5. | 2: УМО и НМС | 2011 | 3 | 1 | 0 | --- | 0 | 0 | --- | --- | ||
| Итого по дисциплине : Современные методы диагностики и исследования наногетероструктур | 3 | --- | --- | --- | |||||||||