Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Knigob Matieres

Печать /Основная форма/Экспорт (Excel)

Дисциплина: Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур

Наименования дисциплин в соответствии со структурой образовательной программы по годам обучения Количество обучающихся, изучающих дисциплину
Обеспечение обучающихся основной учебной и учебно-методической литературой и информационными ресурсами
Перечень и реквизиты литературы (автор, название, год и место издания) или адрес ресурса (не более 5-ти на дисциплину) Количество экз./чел.
Б1 Дисциплины (модули)
Вариативная часть
Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур 0
1. Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация : учеб. пособие / ; В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова, А. М. Мильвидский; МИСиС, Каф. материаловедения полупроводников и диэлектриков. — М. : Изд-во МИСиС, 2013. — 66с. : рис. + Библиогр.: с. 64-66. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=536914. — Пособие МИСиС. — ISBN 978-5-87623-695-1. ---
2. Бублик, В. Т. Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880) : учеб. пособие / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова ; МИСиС, Каф. материаловедения полупроводников и диэлектриков. — М. : [МИСиС], 2016. — 84с. : рис. + Библиогр.: с. 82-83. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=987715489. — Пособие МИСиС. — ISBN 978-5-87623-982-2. ---
© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167