| Наименования дисциплин в соответствии со структурой образовательной программы по годам обучения | Количество обучающихся, изучающих дисциплину | | Обеспечение обучающихся основной учебной и учебно-методической литературой и информационными ресурсами |
| Перечень и реквизиты литературы (автор, название, год и место издания) или адрес ресурса (не более 5-ти на дисциплину) | Количество экз./чел. |
|
| Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур | 0 |
| 1. Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация : учеб. пособие / ; В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова, А. М. Мильвидский; МИСиС, Каф. материаловедения полупроводников и диэлектриков. — М. : Изд-во МИСиС, 2013. — 66с. : рис. + Библиогр.: с. 64-66. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=536914. — Пособие МИСиС. — ISBN 978-5-87623-695-1. | --- |
| 2. Бублик, В. Т. Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880) : учеб. пособие / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова ; МИСиС, Каф. материаловедения полупроводников и диэлектриков. — М. : [МИСиС], 2016. — 84с. : рис. + Библиогр.: с. 82-83. — Режим доступа : http://lib.msk.misis.ru/elib/view.php?id_abs=987715489. — Пособие МИСиС. — ISBN 978-5-87623-982-2. | --- |
|
