Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
537.311.322.082.7-022.532(043.3)
Сортировать по: заглавиюдате издания
Доступно
1 из 1
Автореферат
Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Заказать 
На полку Доступно
1 из 1
Диссертация
Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Сошников, А. И.
Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный