Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Щедрин, Б. М.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Доступно
 2 из 2
Книга
Жидков, Н. П.
Геометрия кристаллического пространства: Учеб. пособие для вузов по спец. 'Прикл. математика'
Изд-во МГУ, 1988 г.
ISBN 5-211-00101-X
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Статья
Бурова, Е. М.
К вопросу о создании экспертных систем для обработки и интерпретации данных дифракционных экспери...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Андрушевский, Н. М.
Диффузное рассеяние от кристаллов с точечными дефектами / Реальная структура кристаллов
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бурова, Е. М.
Опыт разработки программы для качественного фазового анализа поликристаллических смесей как Windo...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Янусова, Л. Г.
Восстановление структуры тонких многослойных пленок по данным рефлектометрии при помощи поэтапног...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Андрушевский, Н. М.
Алгоритмы определения атомной структуры наноразмерных кластеров в кристаллах по диффузному рассея...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Астафьев, С. Б.
Инварианты рефлектометрических кривых - структурные характеристики тонких пленок / Поверхность, т...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Астафьев, С. Б.
Разностный метод решения обратной задачи рефлектометрии многослойных пленок / Поверхность, тонкие...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Симонов, В. И.
Определение строения наночастиц по диффузному рассеянию
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Астафьев, С. Б.
Оценка характерных параметров модели многослойной пленки с использованием дифференциальной функци...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бурова, Е. М.
Метод межатомных векторов, алгоритмы и программы определения атомной структуры нанокластеров в кр...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Астафьев, С. Б.
Программный комплекс bard для анализа строения многослойных структур по данным рефлектометрии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Астафьев, С. Б.
Двумерные сечения целевой функции - дополнительные возможности при восстановлении профиля плотнос...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167