Электронный каталог библиотеки МИСИС
👓
eng
|
rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт:
lib.misis.ru
e-mail:
swt@ntb.misis.ru
Поиск :
Новые поступления
Расширенный поиск
Поиск одной строкой
Дискавери
Авторы
Издательства
Серии
Тезаурус (Рубрики)
Публичные полки
Учебная литература:
По дисциплинам
По специальностям
По специализациям
По кафедрам
Список дисциплин
Информация о фонде
· Журналы
· Электронная библиотека МИСИС
· Другие электронные учебники
· Все электронные ресурсы
Помощь
Личный кабинет :
Номер читательского билета. Если читательский билет не был получен, номер пропуска (студенческого)
Ваше имя
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Хейкер, Д. М.
Сортировать по:
заглавию
Связанные описания:
Отобрать для печати:
страницу
|
инверсия
|
сброс
|
печать
(
0
)
Доступно
2 из 2
Книга
Лисойван, В. И.
Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов
Наука, 1989 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Заказать
На полку
Статья
Хейкер, Д. М.
Кристалл-монохроматор с большой кривизной сагиттального изгиба
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Хейкер, Д. М.
О фокусировке пучка в станциях для исследования атомной структуры монокристаллов на источнике СИ ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Рубинский, С. В.
Определение интервалов сканирования и размеров отражений на рентгенограммах вращения при больших ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Молоденский, Д. С.
Расчет параметров станции рентгеноструктурного анализа (РСА) с адаптивной сегментированной оптико...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Доступно
2 из 2
Книга
Хейкер, Д. М.
Рентгеновская дифрактометрия монокристаллов
Серия:
Методы рентгеновского анализа
Машиностроение, 1973 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Заказать
На полку
Статья
Хейкер, Д. М.
Станция белковой кристаллографии на пучке СИ из поворотного магнита накопителя 'Сибирь-2'
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Хейкер, Д. М.
Станция рентгеноструктурного анализа материалов и монокристаллов, включая нанокристаллы, на СИ из...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку