Электронный каталог -Справочник авторов- Absopac

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Щербачев, К. Д.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

<< назад | 1 | 2

Статья
Филатов, П. А.
Изучение микродефектов в монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кр...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Исследование микродефектов, образующихся на разных стадиях формирования внутреннего геттера в Si,...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Филатов, П. А.
Исследование микродефектов в монокристаллах GaP и GaP(Zn), выращенных методом Чохральского с жидк...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Филатов, П. А.
Микродефекты в термообработанных монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направл...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Орлов, А. Ф.
Исследование структурных характеристик ферромагнитного Si, имплантированного Mn
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Филатов, П. А.
О политропии серы в фосфиде галлия
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Орлов, А. Ф.
О состоянии имплантированной примеси Mn и Si
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Новодворский, О. А.
Оптические и структурные характеристики пленок оксида цинка, легированных галлием
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Лотин, А. А.
Эпитаксиальный рост и свойства пленок MgxZn1-xO, получаемых методом лазерно-плазменного осаждения
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Лотин, А. А.
Тройные сплавы CdyZn1-yO и MgxZn1-xO - материалы для оптоэлектроники
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Щербачев, К. Д.
Особенности образования радиационных дефектов в слое кремния структур "кремний на изоляторе"
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Доступно
14 из 14

Книга

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация: учеб. пособие
Изд-во МИСиС, 2013 г.
ISBN 978-5-87623-695-1
Библиотека МИСиС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Нет экз.

Электронный ресурс
Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880): учеб. пособие
[МИСиС], 2016 г.
ISBN 978-5-87623-982-2

полный текст

На полку