Электронный каталог библиотеки МИСИС
👓
eng
|
rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт:
lib.misis.ru
e-mail:
swt@ntb.misis.ru
Поиск :
Новые поступления
Расширенный поиск
Поиск одной строкой
Дискавери
Авторы
Издательства
Серии
Тезаурус (Рубрики)
Публичные полки
Учебная литература:
По дисциплинам
По специальностям
По специализациям
По кафедрам
Список дисциплин
Информация о фонде
· Журналы
· Электронная библиотека МИСИС
· Другие электронные учебники
· Все электронные ресурсы
Помощь
Личный кабинет :
Номер читательского билета. Если читательский билет не был получен, номер пропуска (студенческого)
Ваше имя
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Кеслер, В. Г.
Сортировать по:
заглавию
Связанные описания:
Отобрать для печати:
страницу
|
инверсия
|
сброс
|
печать
(
0
)
Статья
Эдельман, И. С.
Влияние Ni на магнитное состояние Dy в двухслойных пленках Dy1-xNi-Ni / Магнетизм. Сегнетоэлектри...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Васильев, В. В.
Исследование изменения химического состава поверхности образцов CdxHg1-xTe при обработке в активи...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Кеслер, В. Г.
Исследование распределения компонентов в гетероструктурах Si/GexSi1-x/Si, выращенных методом моле...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Эдельман, И. С.
Магнитооптические эффекты и оже-спектроскопия двухслойных пленок NiFe-Dy, Fe-Dy с неоднородными с...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Кузнецов, Ф. А.
Материалы и базовые технологии электронных устройств следующих поколений: диэлектрические слои
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Качурин, Г. А.
О формировании нанокристаллов кремния при отжиге слоев SiO2, имплантированных ионами Si / Полупро...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Суляева, В. С.
Синтез и свойства пленок BCxNy, полученных плазмохимическим разложением смеси N-триметилборазина ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Качурин, Г. А.
Формирование светоизлучающих наноструктур в слоях стехиометрического SiO2 при облучении тяжелыми ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку