Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Доступно
2 из 2
Доступно
3 из 3
Имамов, Р. М.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:


Статья
Ломов, А. А.
Асимптотическое диффузное рассеяние рентгеновских лучей в монокристаллах GaAs, легированных кремн...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Асимптотическое диффузное рассеяние рентгеновских лучей в монокристаллах GaAs, легированных кремн...
б.г.
ISBN отсутствует

Доступно
2 из 2
Книга
Афанасьев, А. М.
Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов
Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Афанасьев, А. М.
Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов
Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Доступно
3 из 3
Книга
Афанасьев, А. М.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев
Наука, 1989 г.
ISBN 5-02-014020-1
Библиотека МИСИС : Научный
Афанасьев, А. М.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев
Наука, 1989 г.
ISBN 5-02-014020-1
Библиотека МИСИС : Научный







Статья
Ломов, А. А.
Структура пористых приповерхностных слоев монокристаллических пластин GaAs(001) по данным рентген...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Структура пористых приповерхностных слоев монокристаллических пластин GaAs(001) по данным рентген...
б.г.
ISBN отсутствует




Статья
Караванский, В. А.
Влияние дефектов на формирование пористых слоев GaP(001) / Поверхность, тонкие пленки
б.г.
ISBN отсутствует
Караванский, В. А.
Влияние дефектов на формирование пористых слоев GaP(001) / Поверхность, тонкие пленки
б.г.
ISBN отсутствует


Статья
Ломов, А. А.
Структурная характеризация межслойных границ в системе AlxGa1-xAs/GaAs/AlxGa1-xAs методами высоко...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Структурная характеризация межслойных границ в системе AlxGa1-xAs/GaAs/AlxGa1-xAs методами высоко...
б.г.
ISBN отсутствует

Статья
Чуев, М. А.
Одновременный анализ кривых двухкристальной рентгеновской дифрактометрии от семейства кристаллогр...
б.г.
ISBN отсутствует
Чуев, М. А.
Одновременный анализ кривых двухкристальной рентгеновской дифрактометрии от семейства кристаллогр...
б.г.
ISBN отсутствует

Статья
Ломов, А. А.
Структурная характеризация пористых слоев InP(001) методом трехкристальной рентгеновской дифракто...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Структурная характеризация пористых слоев InP(001) методом трехкристальной рентгеновской дифракто...
б.г.
ISBN отсутствует

Статья
Субботин, И. А.
Рентгеновская диагностика псевдоморфной AlGaAs/InGaAs/GaAs-композиции
б.г.
ISBN отсутствует
Субботин, И. А.
Рентгеновская диагностика псевдоморфной AlGaAs/InGaAs/GaAs-композиции
б.г.
ISBN отсутствует





Книга (аналит. описание)
Завьялова, А. А.
Электронографическое исследование структуры фаз в системе Bi-O и некоторые вопросы кристаллохимии...
б.г.
ISBN отсутствует
Завьялова, А. А.
Электронографическое исследование структуры фаз в системе Bi-O и некоторые вопросы кристаллохимии...
б.г.
ISBN отсутствует





Книга (аналит. описание)
Имамов, Р. М.
7. Исследование гетероструктуры InGaAs/GaAs (100) методом рентгеновской дифрактометрии высокого р...
б.г.
ISBN отсутствует
Имамов, Р. М.
7. Исследование гетероструктуры InGaAs/GaAs (100) методом рентгеновской дифрактометрии высокого р...
б.г.
ISBN отсутствует

Книга (аналит. описание)
Галиев, Г. Б.
12. Особенности молекулярно-лучевой эпитаксии GaAs на подложках с ориентацией (111)А, (111)В
б.г.
ISBN отсутствует
Галиев, Г. Б.
12. Особенности молекулярно-лучевой эпитаксии GaAs на подложках с ориентацией (111)А, (111)В
б.г.
ISBN отсутствует