Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Доступно
2 из 2
Доступно
3 из 3
Имамов, Р. М.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Книга (аналит. описание)
Галиев, Г. Б.
12. Особенности молекулярно-лучевой эпитаксии GaAs на подложках с ориентацией (111)А, (111)В
б.г.
ISBN отсутствует
Галиев, Г. Б.
12. Особенности молекулярно-лучевой эпитаксии GaAs на подложках с ориентацией (111)А, (111)В
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
Пашаев, Э. М.
19. Характеризация селективно-легированных многослойных гетероструктур на основе GaAs с квантовым...
б.г.
ISBN отсутствует
Пашаев, Э. М.
19. Характеризация селективно-легированных многослойных гетероструктур на основе GaAs с квантовым...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Афанасьев, А. М.
21. Структурная характеризация двойных квантовых ям AlGaAs/GaAs/AlGaAs тонкими разделяющими AlAs-...
б.г.
ISBN отсутствует
Афанасьев, А. М.
21. Структурная характеризация двойных квантовых ям AlGaAs/GaAs/AlGaAs тонкими разделяющими AlAs-...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Васильевский, И. С.
24. Влияние легирования барьерных слоев AlGaAs на структурные и электрофизические свойства систем...
б.г.
ISBN отсутствует
Васильевский, И. С.
24. Влияние легирования барьерных слоев AlGaAs на структурные и электрофизические свойства систем...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Васильевский, И. С.
27. Электрофизические и структурные свойства двусторонне δ-легированных РНЕМТ-гетероструктур на о...
б.г.
ISBN отсутствует
Васильевский, И. С.
27. Электрофизические и структурные свойства двусторонне δ-легированных РНЕМТ-гетероструктур на о...
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Имамов, Р. М.
7. Исследование гетероструктуры InGaAs/GaAs (100) методом рентгеновской дифрактометрии высокого р...
б.г.
ISBN отсутствует
Имамов, Р. М.
7. Исследование гетероструктуры InGaAs/GaAs (100) методом рентгеновской дифрактометрии высокого р...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Асимптотическое диффузное рассеяние рентгеновских лучей в монокристаллах GaAs, легированных кремн...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Асимптотическое диффузное рассеяние рентгеновских лучей в монокристаллах GaAs, легированных кремн...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Караванский, В. А.
Влияние дефектов на формирование пористых слоев GaP(001) / Поверхность, тонкие пленки
б.г.
ISBN отсутствует
Караванский, В. А.
Влияние дефектов на формирование пористых слоев GaP(001) / Поверхность, тонкие пленки
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Имамов, Р. М.
Диагностика многослойных наноматериалов методами рентгеновской и электронной кристаллографии
б.г.
ISBN отсутствует
Имамов, Р. М.
Диагностика многослойных наноматериалов методами рентгеновской и электронной кристаллографии
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Чуев, М. А.
Одновременный анализ кривых двухкристальной рентгеновской дифрактометрии от семейства кристаллогр...
б.г.
ISBN отсутствует
Чуев, М. А.
Одновременный анализ кривых двухкристальной рентгеновской дифрактометрии от семейства кристаллогр...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Субботин, И. А.
Рентгеновская диагностика псевдоморфной AlGaAs/InGaAs/GaAs-композиции
б.г.
ISBN отсутствует
Субботин, И. А.
Рентгеновская диагностика псевдоморфной AlGaAs/InGaAs/GaAs-композиции
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
2 из 2
Книга
Афанасьев, А. М.
Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов
Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Афанасьев, А. М.
Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов
Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Заказать Доступно
3 из 3
Книга
Афанасьев, А. М.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев
Наука, 1989 г.
ISBN 5-02-014020-1
Библиотека МИСИС : Научный
Афанасьев, А. М.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев
Наука, 1989 г.
ISBN 5-02-014020-1
Библиотека МИСИС : Научный
Статья
Ломов, А. А.
Структура пористых приповерхностных слоев монокристаллических пластин GaAs(001) по данным рентген...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Структура пористых приповерхностных слоев монокристаллических пластин GaAs(001) по данным рентген...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Структурная характеризация межслойных границ в системе AlxGa1-xAs/GaAs/AlxGa1-xAs методами высоко...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Структурная характеризация межслойных границ в системе AlxGa1-xAs/GaAs/AlxGa1-xAs методами высоко...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ломов, А. А.
Структурная характеризация пористых слоев InP(001) методом трехкристальной рентгеновской дифракто...
б.г.
ISBN отсутствует
Ломов, А. А.
Структурная характеризация пористых слоев InP(001) методом трехкристальной рентгеновской дифракто...
б.г.
ISBN отсутствует