Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
 Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери
  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки
  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин
  • Информация о фонде
  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Ладыгин, Е. А.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
1 | 2 | 3 | вперед >>

Статья
Дашевский, М. Я.
Влияние облучения электронами на физические свойства легированных германием монокристаллов кремния
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Ладыгин, Е. А.
Влияние пространственного распределения радиационных дефектов на фотоэлектрические свойства плено...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Диденко, С. И.
Влияние электронного облучения на электрофизические характеристики барьеров Шотки на основе полуп...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 25 из 25
Книга

Действие проникающей радиации на изделия электронной техники
Сов. радио, 1980 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный, Студенческий


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 5 из 5
Книга
Горюнов, Н. Н.
Интегральная микросхемотехника: Лаб. практикум для студ. спец. 0629
Учеба, 1984 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Отчет

Исследование влияния ускоренных частиц на полупроводниковые структуры и разработка справочных дан...: Отчет о НИР
[МИСиС], 1980 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 6 из 6
Книга

Исследование и контроль качества приборов микроэлектроники: лаб. практикум
Учеба, 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Отчет

Исследование и разработка методов повышения стойкости и улучшения параметров полупроводниковых пр...: Отчет о НИР
[МИСиС], 1985 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Книга

Исследование и разработка методов повышения стойкости и улучшения параметров полупроводниковых пр...
[МИСиС], 1983 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Отчет

Исследование и разработка методов улучшения и оптимизации параметров полупроводниковых микросхем ...: Отчет о НИР
[МИСиС], 1985 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Книга

Исследование и разработка методов улучшения и оптимизации параметров полупроводниковых микросхем ...
[МИСиС], 1984 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Книга

Исследование и разработка методов улучшения электрофизических характеристик структур КНС и активн...
[МИСиС], 1988 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Отчет

Исследование и разработка радиационных методов формирования активных физических областей фотоприе...: Отчет о НИР
[МИСиС], 1985 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Статья
Диденко, С. И.
Кинетика накопления глубоких радиационных центров в структурах с барьером Шотки на широкозонных п...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Крылов, Д. Г.
Кинетика накопления и отжига поверхностных состояний на границе раздела структур кремний-окисел к...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Диссертация
Таперо, К. И.
Кинетика накопления и отжига радиационных дефектов в активных областях кремниевых МОП и КМОП стру...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1996 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Статья
Крылов, Д. Г.
Методика оценки заряда подзатворного диэлектрика в структурах металл-диэлектрик-полупроводник / К...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 5 из 5
Книга
Кольцов, Г. И.
Методические указания для выполнения домашних заданий и курсовых проектов по курсу "Теория и расч...
Учеба, 1983 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 4 из 5
Книга
Журавлев, В. Б.
Методы измерения параметров полупроводников и диэлектриков. Разд.: Электрофизические и фотоэлектр...: лаб. практикум для студ. спец. 0604, 0629, 0643
Учеба, 1982 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 5 из 5
Книга

Метрология, стандартизация и измерительная техника: Разд.: Контроль качества изделий микроэлектро...: курс лекций для студ. спец. 20.03
Учеба, 1989 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 5 из 5
Книга

Микросхемотехника: Разд.: Микропроцессорные БИС: курс лекций для студ. спец. 20.02 и 20.08
Учеба, 1989 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 5 из 5
Книга

Микросхемотехника: Разд.: Элементы логических и аналоговых схем: курс лекций для студ. спец. 20.03
Учеба, 1989 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Нет экз.
Отчет

Моделирование и экспериментальные исследования воздействия спецфакторов на ИС с целью их классифи...: отчет о НИР (заключит.)
[МИСиС], 1990 г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Крылов, Д. Г.
Модель радиационного накопления дефектов в системе кремний-оксид кремния / Краткие сообщения
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 5 из 5
Книга
Ладыгин, Е. А.
Обеспечение надежности электронных компонентов космических аппаратов: учеб. пособие для студ. спец. 200100 и 200200
Учеба, 2003 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 5 из 5
Книга

Организация эксперимента: Лаб. практикум для студ. спец. 0604, 0629, 0643
[МИСиС], 1984 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Статья
Ладыгин, Е. А.
Основные типы радиационных центров и их влияние на электрофизические параметры кремниевых диодных...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 4 из 4
Книга
Горюнов, Н. Н.
Основы микроэлектроники. Раздел: Динамические параметры интегральных схем: Лабораторный практикум для студентов спец. 0629
Учеба, 1983 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 3 из 3
Книга
Горюнов, Н. Н.
Основы микроэлектроники: Разд.: Полупроводниковые и микроэлектронные приборы: Лаб. практикум (для студентов спец.0629)
Учеба, 1980 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 5 из 6
Книга

Основы радиационной технологии микроэлектроники: лаб. практикум для студ. спец. 0629
Учеба, 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167