Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Щербачев, К. Д.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
1 | 2 | вперед >>

Статья
Щербачев, К. Д.
Анализ реальной структуры ионоимплантированных слоев по карте обратного пространства / Атомная ст...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Аномальное изменение периода решетки монокристаллов InP, облученных реакторными нейтронами / Атом...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Щербачев, К. Д.
Влияние in situ фотовозбуждения на структуру нарушенного слоя в подложках GaAs(001), имплантирова...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бойко, В. М.
Влияние облучения реакторными нейтронами и температуры на структуру монокристаллов InP / Атомная ...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Влияния легирования кремнием на особенности образования микродефектов вдоль слитка в монокристалл...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 13 из 14
Книга

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация: учеб. пособие
Изд-во МИСиС, 2013 г.
ISBN 978-5-87623-695-1
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Нет экз.
Электронный ресурс
Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880): учеб. пособие
[МИСиС], 2016 г.
ISBN 978-5-87623-982-2

полный текст


На полку На полку


Доступно
 4 из 5
Книга
Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур: учеб. пособие для студ. спец. 071000 напр. 651700
Учеба, 2001 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Изменение структуры монокристаллов InSb после облучения нейтронами и отжигов / Атомная структура ...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Щербачев, К. Д.
Изменение структуры слоя Si в КНИ после имплантации ионов Ar+ / Атомная структура и методы структ...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бойко, В. М.
Изменения структуры монокристаллов InSb после облучения нейтронами и термообработок / Атомная стр...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Изучение ансамбля радиационных точечных дефектов в тонких слоях GaAs, легированных ионами Se+ и D...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Изучение влияния различных режимов термического отжига на образование микродефектов в монокристал...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Изучение методом рентгеновской дифрактометрии влияния дислокаций на характер дефектной структуры ...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Изучение методом рентгеновской дифрактометрии влияния фотовозбуждения на характер формирования де...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Филатов, П. А.
Изучение микродефектов в монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кр...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Изучение процессов восстановления структуры слоя арсенида галлия, нарушенного при имплантации ион...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Галаев, А. А.
Ионный синтез скрытых проводящих слоев CoSi2 в кремнии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Филатов, П. А.
Исследование микродефектов в монокристаллах GaP и GaP(Zn), выращенных методом Чохральского с жидк...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Исследование микродефектов, образующихся на разных стадиях формирования внутреннего геттера в Si,...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Исследование особенностей образования микродефектов в термически обработанных бездислокационных п...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Вдовин, В. И.
Исследование структурного совершенства гетерограниц в сверхрешетках Si-SiGe / Фазовые переходы
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Орлов, А. Ф.
Исследование структурных характеристик ферромагнитного Si, имплантированного Mn
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Щербачев, К. Д.
Микродефекты в арсениде галлия / Материалы электронной техники
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Филатов, П. А.
Микродефекты в термообработанных монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направл...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Пархоменко, Ю. Н.
Модель фазообразования дисилицида кобальта в кремнии в процессе ионно-лучевого синтеза / Эпитакси...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
О влиянии фотовозбуждения in situ на структуру нарушенного слоя в подложках GaAs(001), имплантиро...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Щербачев, К. Д.
О влиянии фотовозбуждения in situ на структуру нарушенного слоя в подложках Si(111), имплантирова...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Филатов, П. А.
О политропии серы в фосфиде галлия
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Орлов, А. Ф.
О состоянии имплантированной примеси Mn и Si
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167