Электронный каталог -Справочник авторов- Absopac

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Бублик, В. Т.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

1 | 2 | 3 | 4 | 5 | вперед >>

Статья
Щербачев, К. Д.
Анализ реальной структуры ионоимплантированных слоев по карте обратного пространства / Атомная ст...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Аномальное изменение периода решетки монокристаллов InP, облученных реакторными нейтронами / Атом...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Щербачев, К. Д.
Влияние in situ фотовозбуждения на структуру нарушенного слоя в подложках GaAs(001), имплантирова...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Доступно
1 из 1

Автореферат
Гочуа, К. В.
Влияние дефектности структуры на электрофизические свойства термоэлектрических материалов на осно...: автореф. дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология и оборудование для производства
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Доступно
1 из 1

Диссертация
Гочуа, К. В.
Влияние дефектности структуры на электрофизические свойства термоэлектрических материалов на осно...: дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология и оборудование для производства полупроводников,
[МИСиС], 2013 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Доступно
1 из 1

Автореферат
Постолов, В. Г.
Влияние легирования на природу и механизм образования микродефектов в бездислокационных кристалла...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
[МИСиС], 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Доступно
1 из 1

Диссертация
Постолов, В. Г.
Влияние легирования на природу и механизм образования микродефектов в бездислокационных кристалла...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
[МИСиС], 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Влияние облучения реакторными нейтронами и отжигов на структуру монокристаллов InP
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бойко, В. М.
Влияние облучения реакторными нейтронами и температуры на структуру монокристаллов InP / Атомная ...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Дарвойд, Т. И.
Влияние обработки кристаллов галогенидов таллия излучением CO2-лазера на их структуру и физически...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Доступно
1 из 1

Диссертация
Ткалич, А. К.
Влияние точечных дефектов и концентрационных неоднородностей на свойства монокристаллических плен...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
[МИСиС], 1992 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Доступно
1 из 1

Диссертация
Коняева, Е. П.
Влияние точечных дефектов на температурную зависимость среднеквадратичных амплитуд колебаний атом...: дис... к.физ.-мат.н.
[МИСиС], 1973 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Статья
Аленков, В. В.
Влияние условий кристаллизации на структуру пластин твердых растворов термоэлектрических материал...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Влияния легирования кремнием на особенности образования микродефектов вдоль слитка в монокристалл...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Доступно
1 из 1

Автореферат
Красильников, В. С.
Дефектообразование в эпитаксиальных слоях и гетерокомпозициях на основе многокомпонентных твердых...: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Доступно
1 из 1

Диссертация
Красильников, В. С.
Дефектообразование в эпитаксиальных слоях и гетерокомпозициях на основе многокомпонентных твердых...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Доступно
13 из 14

Книга

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация: учеб. пособие
Изд-во МИСиС, 2013 г.
ISBN 978-5-87623-695-1
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Нет экз.

Электронный ресурс
Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия (N 2880): учеб. пособие
[МИСиС], 2016 г.
ISBN 978-5-87623-982-2

полный текст

На полку

Доступно
4 из 5

Книга
Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур: учеб. пособие для студ. спец. 071000 напр. 651700
Учеба, 2001 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Доступно
1 из 1

Диссертация
Пузанов, Н. И.
Закономерности образования микродефектов в бездислокационных кристаллах кремния, выращиваемых мет...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
[МИСиС], 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изменение структуры монокристаллов InSb после облучения нейтронами и отжигов / Атомная структура ...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Щербачев, К. Д.
Изменение структуры слоя Si в КНИ после имплантации ионов Ar+ / Атомная структура и методы структ...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бойко, В. М.
Изменения структуры монокристаллов InSb после облучения нейтронами и термообработок / Атомная стр...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изучение ансамбля радиационных точечных дефектов в тонких слоях GaAs, легированных ионами Se+ и D...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изучение влияния различных режимов термического отжига на образование микродефектов в монокристал...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изучение влияния технологии получения и последующего старения на структуру и физические свойства ...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изучение методом рентгеновской дифрактометрии влияния дислокаций на характер дефектной структуры ...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изучение методом рентгеновской дифрактометрии влияния фотовозбуждения на характер формирования де...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Филатов, П. А.
Изучение микродефектов в монокристаллах GaAs(Si), выращенных методом вертикальной направленной кр...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изучение процессов восстановления структуры слоя арсенида галлия, нарушенного при имплантации ион...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку