Электронный каталог -Справочник авторов- Absopac

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Чуев, М. А.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)
Афанасьев, А. М.
21. Структурная характеризация двойных квантовых ям AlGaAs/GaAs/AlGaAs тонкими разделяющими AlAs-...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Книга (аналит. описание)
Васильевский, И. С.
24. Влияние легирования барьерных слоев AlGaAs на структурные и электрофизические свойства систем...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Евстигнеев, С. В.
Исследование квантовых ям InxGa1-xAs/GaAs методами низкотемпературной фотолюминесценции и рентген...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Чуев, М. А.
Нетривиальная роль аппаратной функции в формировании кривых рентгеновской дифракции в двухкристал...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Чуев, М. А.
Одновременный анализ кривых двухкристальной рентгеновской дифрактометрии от семейства кристаллогр...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Субботин, И. А.
Рентгеновская диагностика псевдоморфной AlGaAs/InGaAs/GaAs-композиции
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Афанасьев, А. М.
Структура границ квантовой ямы InxGa1-xAs по рентгенодифракционным данным / Дифракция и рассеяние...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Ломов, А. А.
Структурная характеризация межслойных границ в системе AlxGa1-xAs/GaAs/AlxGa1-xAs методами высоко...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Афанасьев, А. М.
Структурная характеризация ультратонких квантовых ям Si1-xGex в матрице Si с помощью рентгеновско...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Афанасьев, А. М.
Структурные характеристики многослойной системы GaAs-InxGa1-xAs по данным двухкристальной рентген...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку