Электронный каталог -Справочник авторов- Absopac

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Ломов, А. А.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Статья
Ломов, А. А.
Асимптотическое диффузное рассеяние рентгеновских лучей в монокристаллах GaAs, легированных кремн...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Афанасьев, А. М.
Структурные характеристики многослойной системы GaAs-InxGa1-xAs по данным двухкристальной рентген...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Евстигнеев, С. В.
Исследование квантовых ям InxGa1-xAs/GaAs методами низкотемпературной фотолюминесценции и рентген...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Попов, Я. Н.
Опыт освоения роликовых печей для термической обработки заготовок из подшипниковой стали / Металл...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бушуев, В. А.
Восстановление профиля распределения плотности приповерхностного слоя в методе рентгеновской рефл...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Афанасьев, А. М.
Структура границ квантовой ямы InxGa1-xAs по рентгенодифракционным данным / Дифракция и рассеяние...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Ломов, А. А.
Структура пористых приповерхностных слоев монокристаллических пластин GaAs(001) по данным рентген...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Ломов, А. А.
Исследование шероховатостей поверхности и границ раздела пористого кремния высокоразрешающими рен...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Ломов, А. А.
Структура слоев пористого германия по данным высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии / Пов...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Имамов, Р. М.
Исследование гетероструктуры InGaAs/GaAs(100) методом рентгеновской дифрактометрии высокого разре...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Караванский, В. А.
Влияние дефектов на формирование пористых слоев GaP(001) / Поверхность, тонкие пленки
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Ломов, А. А.
Структурная характеризация межслойных границ в системе AlxGa1-xAs/GaAs/AlxGa1-xAs методами высоко...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Чуев, М. А.
Одновременный анализ кривых двухкристальной рентгеновской дифрактометрии от семейства кристаллогр...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Ломов, А. А.
Структурная характеризация пористых слоев InP(001) методом трехкристальной рентгеновской дифракто...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Ломов, А. А.
Рентгендифракционные исследования морфологии и структуры импульсно-анодированных многослойных пор...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Ломов, А. А.
Применение рентгеновских дифракционных методов для исследования микронных пористых слоев кремния
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Ломов, А. А.
Рентгенодифракционные исследования многослойной пористой структуры InP(001)
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Книга (аналит. описание)
Имамов, Р. М.
7. Исследование гетероструктуры InGaAs/GaAs (100) методом рентгеновской дифрактометрии высокого р...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Книга (аналит. описание)
Афанасьев, А. М.
21. Структурная характеризация двойных квантовых ям AlGaAs/GaAs/AlGaAs тонкими разделяющими AlAs-...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Книга (аналит. описание)
Васильевский, И. С.
24. Влияние легирования барьерных слоев AlGaAs на структурные и электрофизические свойства систем...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Ломов, А. А.
Рассеяние рентгеновских лучей модулированными структурами пористого кремния
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Сизова, Н. Л.
Анизотропия микротвердости и разрушения кристалла
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Сивков, В. Н.
Рентгеновские и синхротронные исследования пористого кремния
б.г.
ISBN отсутствует

На полку