Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Имамов, Р. М.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
1 | 2 | вперед >>

Статья
Ломов, А. А.
Асимптотическое диффузное рассеяние рентгеновских лучей в монокристаллах GaAs, легированных кремн...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 2 из 2
Книга
Афанасьев, А. М.
Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов
Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 3 из 3
Книга
Афанасьев, А. М.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев
Наука, 1989 г.
ISBN 5-02-014020-1
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Статья
Галиев, Г. Б.
Исследование структурных свойств слоев GaAs, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии при...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Афанасьев, А. М.
Структурные характеристики многослойной системы GaAs-InxGa1-xAs по данным двухкристальной рентген...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Евстигнеев, С. В.
Исследование квантовых ям InxGa1-xAs/GaAs методами низкотемпературной фотолюминесценции и рентген...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Клечковская, В. В.
Электронографический структурный анализ (от Вайнштейна до наших дней) / Дифракция и рассеяние эле...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Афанасьев, А. М.
Структура границ квантовой ямы InxGa1-xAs по рентгенодифракционным данным / Дифракция и рассеяние...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бушуев, В. А.
Зеркальное отражение рентгеновских лучей в условиях скользящей дифракции в кристалле с аморфным с...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Ломов, А. А.
Структура пористых приповерхностных слоев монокристаллических пластин GaAs(001) по данным рентген...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Афанасьев, А. М.
Структурная характеризация ультратонких квантовых ям Si1-xGex в матрице Si с помощью рентгеновско...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Имамов, Р. М.
Исследование гетероструктуры InGaAs/GaAs(100) методом рентгеновской дифрактометрии высокого разре...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Афанасьев, А. М.
Структурная диагностика 'квантовых' слоев методом двухкристальной рентгеновской дифрактометрии / ...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Караванский, В. А.
Влияние дефектов на формирование пористых слоев GaP(001) / Поверхность, тонкие пленки
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Имамов, Р. М.
Исследование структурных свойств гетеросистем InxGa1-xAs/InyAl1-yAs на подложках InP / Поверхност...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Ломов, А. А.
Структурная характеризация межслойных границ в системе AlxGa1-xAs/GaAs/AlxGa1-xAs методами высоко...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Чуев, М. А.
Одновременный анализ кривых двухкристальной рентгеновской дифрактометрии от семейства кристаллогр...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Ломов, А. А.
Структурная характеризация пористых слоев InP(001) методом трехкристальной рентгеновской дифракто...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Субботин, И. А.
Рентгеновская диагностика псевдоморфной AlGaAs/InGaAs/GaAs-композиции
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Имамов, Р. М.
Двухкристальная рентгеновская дифрактометрия в исследовании взаимосвязи совершенства кристалличес...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Васильевский, И. С.
Электрофизические и структурные свойства двусторонне дельта-легированных PHEMT-гетероструктур на ...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Сутырин, А. Г.
Решение обратной задачи восстановления реальной структуры материалов по совокупности данных разли...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Васильевский, И. С.
Электрофизические и структурные свойства квантовых ям InyGa1-yAs/InxAl1-xAs/InP с различным содер...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Завьялова, А. А.
Электронографическое исследование структуры фаз в системе Bi-O и некоторые вопросы кристаллохимии...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Сутырин, А. Г.
Оптимизация генетического алгоритма совместной подгонки кривых рентгеновского рассеяния различног...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Васильев, А. Л.
Структурные и электрофизические свойства квантовых ям с наноразмерными вставками InAs в гетеростр...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Имамов, Р. М.
Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения для решения задач кристаллографии нано...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Галиев, Г. Б.
Структурные и электрофизические свойства метаморфных наногетероструктур с высоким содержанием InA...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Имамов, Р. М.
7. Исследование гетероструктуры InGaAs/GaAs (100) методом рентгеновской дифрактометрии высокого р...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Галиев, Г. Б.
12. Особенности молекулярно-лучевой эпитаксии GaAs на подложках с ориентацией (111)А, (111)В
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167