Электронный каталог -Справочник авторов- Absopac

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Бублик, В. Т.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

<< назад | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | вперед >>

Книга (аналит. описание)
Бублик, В. Т.
Исследование фазового состояния примеси в сильно легированном сурьмой кремнии
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Книга (аналит. описание)
Бублик, В. Т.
Определение энергии смешения и упругих постоянных твердого раствора Ge-Si (28% Si) методом диффуз...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Книга (аналит. описание)
Бублик, В. Т.
Исследование концентрационной зависимости периода решетки твердых растворов GaAs-GaP и GaAs-AlAs
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Книга (аналит. описание)
Бублик, В. Т.
Исследование упорядочения в системах GaAs-GaP и GAAs-AlAs методом диффузного рассеяния рентгеновс...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Доступно
1 из 1

Диссертация
Зайцев, А. А.
Исследование твердых растворов KCl-KBr, HgTe и Ge-Sl методом диффузионного рассеяния рентгеновски...: дис... к.физ.-мат.н.
[МИСиС], 1975 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Доступно
1 из 1

Диссертация
Комарницкая, Е. А.
Особенности дефектообразования в ионноимплантированных слоях арсенида галлия: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 2000 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Доступно
1 из 1

Диссертация
Фролов, А. М.
Материаловедческие основы технологии получения термоэлектрических модулей из слитков твердых раст...: дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология полупроводников и материалов электронной
[МИСиС], 1999 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Доступно
4 из 4

Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и компонентов электронной техники: учеб. пособие для практ. занятий студ. спец. 20.02
Учеба, 1991 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Доступно
6 из 6

Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры.Применение методов рентгеноструктурного анализа (исследование струк...: лаб. практикум для студ. спец. 0604,0629,0643 (часть 2)
Учеба, 1985 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Доступно
5 из 5

Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников: Металлографические методы исследования. Основные м...: лаб. практикум для студ.спец.0604,0629,0643
Учеба, 1985 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Доступно
6 из 6

Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников.: Электронография.Рентгеновская и электронная микро...: лаб. практикум для студ. спец. 0604, 0629, 0643
Учеба, 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Доступно
6 из 6

Книга
Бублик, В. Т.
Определение структуры и свойств элементов полупроводниковых устройств: лаб. практикум для студ. спец. 0604 специализация 'Физ.материаловедение микроэлектроники'
Учеба, 1986 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Доступно
1 из 2

Книга
Бублик, В. Т.
Основные принципы просвечивающей электронной микроскопии: Конспект лекций для спец.'Полупроводники и диэлектрики'
Учеба, 1970 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Доступно
166 из 169

Книга
Бублик, В. Т.
Сборник задач и упражнений по курсу 'Методы исследования структуры': Учеб. пособие для вузов по спец. 'Физика и технология материалов и компонентов электрон. техники', 'Микроэлектроника и
Высш. шк., 1988 г.
ISBN 5-06-001309-X
Библиотека МИСИС : Научный, Студенческий

Заказать

На полку

Доступно
4 из 5

Книга
Бублик, В. Т.
Специальные методы изучения и контроля структуры и свойств полупроводников и компонентов электрон...: курс лекций для студ.спец.20.02
Учеба, 1990 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Особенности дефектообразования при имплантации ионов Si в пластины GaAs ориентации (211) / Реальн...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изучение процессов восстановления структуры слоя арсенида галлия, нарушенного при имплантации ион...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Доступно
1 из 1

Книга

Исследование технологии эпитаксиального наращивания ферритовых пленок с целью оптимизации состава...
[МИСиС], 1982 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Доступно
1 из 1

Диссертация
Пузанов, Н. И.
Закономерности образования микродефектов в бездислокационных кристаллах кремния, выращиваемых мет...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
[МИСиС], 1987 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

Заказать

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Особенности структуры монокристаллов GaAs(Si), выращенных методом Чохральского из-под слоя флюса ...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Упрочнение многослойных покрытий на основе TiC, TiN и Al2O3 малыми дозами гамма-квантов / Краткие...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Формирование ансамбля радиационных точечных дефектов в тонких слоях GaAs, легированных ионами Si+...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Доступно
4 из 5

Книга
Бублик, В. Т.
Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур: учеб. пособие для студ. спец. 071000 напр. 651700
Учеба, 2001 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст

Заказать

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be+ и Se+ ...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изучение влияния технологии получения и последующего старения на структуру и физические свойства ...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Изучение влияния различных режимов термического отжига на образование микродефектов в монокристал...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Щербачев, К. Д.
Влияние in situ фотовозбуждения на структуру нарушенного слоя в подложках GaAs(001), имплантирова...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Щербачев, К. Д.
Микродефекты в арсениде галлия / Материалы электронной техники
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Евгеньев, С. Б.
Исследование изменения структуры арсенида галлия при имплантации ионов алюминия / Технология полу...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку

Статья
Бублик, В. Т.
Исследование особенностей образования микродефектов в термически обработанных бездислокационных п...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку