Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Справочник авторов

К списку авторов

Бублик, В. Т.

Сортировать по: заглавию

Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)
<< назад | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | вперед >>

Статья
Бублик, В. Т.
Изучение с помощью диффузного рассеяния рентгеновских лучей влияния легирования и низкотемператур...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Освенский, В. Б.
Изучение структурных механизмов нарушения адгезии антидиффузионного покрытия никеля на термоэлект...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Диссертация
Карман, М. Б.
Исследование ближнего порядка твердых растворов некоторых соединений типа А три В пять методом ди...: дис... к.физ.-мат.н.
[МИСиС], 1976 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be / Физич...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be+ и Se+ ...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Евгеньев, С. Б.
Исследование изменения структуры арсенида галлия при имплантации ионов алюминия / Технология полу...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Бублик, В. Т.
Исследование концентрационной зависимости периода решетки твердых растворов GaAs-GaP и GaAs-AlAs
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Диссертация
Бублик, В. Т.
Исследование механизма формирования центров рекристаллизации в меди и алюминии: дис... к.физ.-мат.н.
[МИСиС], 1964 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Статья
Филатов, П. А.
Исследование микродефектов в монокристаллах GaP и GaP(Zn), выращенных методом Чохральского с жидк...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Автореферат
Жевнеров, Е. В.
Исследование микродефектов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Диссертация
Жевнеров, Е. В.
Исследование микродефектов в монокристаллах арсенида галлия, легированного кремнием: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников"
[МИСиС], 2011 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Исследование микродефектов, образующихся на разных стадиях формирования внутреннего геттера в Si,...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Статья
Бублик, В. Т.
Исследование особенностей образования микродефектов в термически обработанных бездислокационных п...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Автореферат
Перова, Л. Н.
Исследование природы точечных дефектов в арсениде индия: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1979 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Диссертация
Перова, Л. Н.
Исследование природы точечных дефектов в арсениде индия: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1979 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Автореферат
Вильке, Ю.
Исследование природы точечных дефектов в атимониде галлия: автореф. дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1981 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Диссертация
Вильке, Ю.
Исследование природы точечных дефектов в атимониде галлия: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1981 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Диссертация
Гайдай, Л. И.
Исследование природы точечных дефектов в монокристаллах арсенида галлия, нелегированных и легиров...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1979 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Диссертация
Анастасьева, Н. А.
Исследование природы точечных дефектов в сильнолегированных мышьяком кремнии и германии и в арсен...: дис... к.физ.-мат.н., спец. 01.04.07 - "Физика твердого тела"
[МИСиС], 1977 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Диссертация
Крикунов, А. И.
Исследование процессов получения, структуры и электрических свойств тонких слоев антимонида индия...: дис... к.т.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
[МИСиС], 1981 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Статья
Орлов, А. Ф.
Исследование структурных характеристик ферромагнитного Si, имплантированного Mn
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Диссертация
Зайцев, А. А.
Исследование твердых растворов KCl-KBr, HgTe и Ge-Sl методом диффузионного рассеяния рентгеновски...: дис... к.физ.-мат.н.
[МИСиС], 1975 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Книга

Исследование технологии эпитаксиального наращивания ферритовых пленок с целью оптимизации состава...
[МИСиС], 1982 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Бублик, В. Т.
Исследование упорядочения в системах GaAs-GaP и GAAs-AlAs методом диффузного рассеяния рентгеновс...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)
Бублик, В. Т.
Исследование фазового состояния примеси в сильно легированном сурьмой кремнии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Доступно
 1 из 1
Диссертация
Фролов, А. М.
Материаловедческие основы технологии получения термоэлектрических модулей из слитков твердых раст...: дис... к.т.н., спец. 05.27.06 - "Технология полупроводников и материалов электронной
[МИСиС], 1999 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 4 из 4
Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и компонентов электронной техники: учеб. пособие для практ. занятий студ. спец. 20.02
Учеба, 1991 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 97 из 97
Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур электроники. Рентгеновская дифракционная микроскопия: курс лекций
Учеба, 2006 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный, Студенческий

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 148 из 148
Книга
Мильвидский, А. М.
Методы исследования структур кристаллов. Фазовый анализ и прецизионные измерения параметра решетки: Лаб. практикум
Учеба, 2005 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный, Студенческий

полный текст


Заказать Заказать

На полку На полку


Доступно
 66 из 71
Книга
Бублик, В. Т.
Методы исследования структуры полупроводников и металлов: учеб. пособие для вузов по спец.- Технология спец. материалов электрон. техники
Металлургия, 1978 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный, Студенческий


Заказать Заказать

На полку На полку

© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167