Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Сизов, Ф. Ф. - Эпитаксиальные слои и сверхрешетки Si/Si1-xGex. Получение и структурные характеристики
Сизов, Ф. Ф. - Эпитаксиальные слои и сверхрешетки Si/Si1-xGex. Получение и структурные характеристики
Статья
Автор: Сизов, Ф. Ф.
Физика и техника полупроводников: Эпитаксиальные слои и сверхрешетки Si/Si1-xGex. Получение и структурные характеристики
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Сизов, Ф. Ф.
Физика и техника полупроводников: Эпитаксиальные слои и сверхрешетки Si/Si1-xGex. Получение и структурные характеристики
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Сизов, Ф. Ф.
Эпитаксиальные слои и сверхрешетки Si/Si1-xGex. Получение и структурные характеристики / Ф. Ф. Сизов, Ю. Н. Козырев, В. П. Кладько, С. В. Пляцко, В. М. Огенко, А. П. Шевляков // Физика и техника полупроводников . – 1997 . – Т. 31, N 8 . – 922-926 .
Сизов, Ф. Ф.
Эпитаксиальные слои и сверхрешетки Si/Si1-xGex. Получение и структурные характеристики / Ф. Ф. Сизов, Ю. Н. Козырев, В. П. Кладько, С. В. Пляцко, В. М. Огенко, А. П. Шевляков // Физика и техника полупроводников . – 1997 . – Т. 31, N 8 . – 922-926 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 31, N 8
1997 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 31, N 8
1997 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный