Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бестаев, М. В. - Рентгеноспектральный микроанализ легированных монокристаллов PbTe и Pb0.8Sn0.2Te
Бестаев, М. В. - Рентгеноспектральный микроанализ легированных монокристаллов PbTe и Pb0.8Sn0.2Te
Статья
Автор: Бестаев, М. В.
Физика и техника полупроводников: Рентгеноспектральный микроанализ легированных монокристаллов PbTe и Pb0.8Sn0.2Te
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Бестаев, М. В.
Физика и техника полупроводников: Рентгеноспектральный микроанализ легированных монокристаллов PbTe и Pb0.8Sn0.2Te
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Бестаев, М. В.
Рентгеноспектральный микроанализ легированных монокристаллов PbTe и Pb0.8Sn0.2Te / М. В. Бестаев, А. И. Горелик, В. А. Мошников, Ю. М. Таиров // Физика и техника полупроводников . – 1997 . – Т. 31, N 8 . – 980-983 .
Бестаев, М. В.
Рентгеноспектральный микроанализ легированных монокристаллов PbTe и Pb0.8Sn0.2Te / М. В. Бестаев, А. И. Горелик, В. А. Мошников, Ю. М. Таиров // Физика и техника полупроводников . – 1997 . – Т. 31, N 8 . – 980-983 .