Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Фелдман, Л. - Основы анализа поверхности и тонких пленок

Фелдман, Л. - Основы анализа поверхности и тонких пленок

Доступно
 4 из 5
Книга
Автор: Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Издательство: Мир, 1989 г.
ISBN 5-03-001017-3

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
II-9 Ф-374

Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Дж. Майер, В. А. Аркадьев, Л. И. Огнев, В. В. Белошицкий . – М. : Мир, 1989 . – 342 с. : ил. + Библиогр. в конце глав.-Предм. указ.: с. 333-336. - ISBN 5-03-001017-3 : руб. 3.70 .

539.27


617559 01:Книгохранение
617560 01:Книгохранение
617561 01:Книгохранение
617563 00:На списании
619865 01:Книгохранение



Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)

Глава 12. Активационный и мгновеннорадиационный ядерные методы анализа
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Глава 11. Неизлучательные переходы и оже-электронная спектроскопия
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Глава 10. Излучательные переходы и электронный микроанализ
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Глава 9. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS)
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Глава 8. Поглощение фотонов в твердых телах и EXAFS
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Глава 7. Структура поверхности
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Глава 6. Электрон-электронные взаимодействия и чувствительность к глубине в электронной спектроск...
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Глава 5. Каналирование
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Глава 4. Профили распыления и масс-спектрометрия вторичных ионов
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Глава 3. Потери энергии ионов и получение распределений по глубине с помощью обратного рассеяния
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Глава 2. Атомные столкновения и спектрометрия обратного рассеяния
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Глава 1. Основные понятия, единицы измерения, атом Бора
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167