Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
 Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери
  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки
  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин
  • Информация о фонде
  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы
  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Спенс, Дж. - Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения

Спенс, Дж. - Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения

Доступно
 4 из 4
Книга
Автор: Спенс, Дж.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения
Издательство: Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
II-6 С-716

Спенс, Дж.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения / Дж. Спенс, В. Н. Рожанский . – М. : Наука, 1986 . – 320 с. : ил. : руб. 3.70 .

537.533.35

Общий = Физика : электричество : электронная микроскопия

587378 01:Книгохранение
587379 01:Книгохранение
587380 01:Книгохранение
417536д 01:Книгохранение




© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167