Электронный каталог библиотеки МИСИС

Книга (аналит. описание)

1. Информационные основы распознавания образов минералов в срастаниях и деталей полупроводниковых структур на неоднородной поверхности методами электронно-зондового микроанализа: 1.1 Аналитические возможности рентгеноспектрального микроанализа минералов в срастаниях с помощью электронного зонда. 1.2 Многообразие состава и свойств минералов и их срастаний. Потребности в параметрах и средствах микроанализа. 1.3 Проблемы количественного анализа поверхности многокомпонентных полупроводниковых материалов и структур // Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей (в свете теории распознавания образов) / Н. В. Тронева, М. А. Тронева . – М. : Металлургия, 1996 . – с.11-55 .