Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: 4.Способ количественного ОЭС-анализа с учетом коррекции на атомную плотность в многокомпонентной ...
4.Способ количественного ОЭС-анализа с учетом коррекции на атомную плотность в многокомпонентной ...
Книга (аналит. описание)
Автор:
Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей (в свете теории распознавания образов): 4.Способ количественного ОЭС-анализа с учетом коррекции на атомную плотность в многокомпонентной ...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор:
Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей (в свете теории распознавания образов): 4.Способ количественного ОЭС-анализа с учетом коррекции на атомную плотность в многокомпонентной ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Книга (аналит. описание)
4.Способ количественного ОЭС-анализа с учетом коррекции на атомную плотность в многокомпонентной системе матрица - изоморфная поверхностная примесь // Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей (в свете теории распознавания образов) / Н. В. Тронева, М. А. Тронева . – М. : Металлургия, 1996 . – с.148-183 .
4.Способ количественного ОЭС-анализа с учетом коррекции на атомную плотность в многокомпонентной системе матрица - изоморфная поверхностная примесь // Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей (в свете теории распознавания образов) / Н. В. Тронева, М. А. Тронева . – М. : Металлургия, 1996 . – с.148-183 .
Привязано к:
Доступно
2 из 2
Книга
Тронева, Н. В.
Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей (в свете теории распознавания образов)
Металлургия, 1996 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Тронева, Н. В.
Электронно-зондовый микроанализ неоднородных поверхностей (в свете теории распознавания образов)
Металлургия, 1996 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный