Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Разработка методов улучшения параметров и повышения стойкости полупроводниковых приборов, ИС и БИ...
Разработка методов улучшения параметров и повышения стойкости полупроводниковых приборов, ИС и БИ...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Отчет
Автор:
Разработка методов улучшения параметров и повышения стойкости полупроводниковых приборов, ИС и БИ... : Отчет о НИР. Промежут.
Издательство: [МИСиС], 1987 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Разработка методов улучшения параметров и повышения стойкости полупроводниковых приборов, ИС и БИ... : Отчет о НИР. Промежут.
Издательство: [МИСиС], 1987 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Отчет
VIII-5 Р-177
Разработка методов улучшения параметров и повышения стойкости полупроводниковых приборов, ИС и БИС с применением лучевых процессов : Отчет о НИР. Промежут. / Н. Н. Горюнов, Н. Н. Горюнов . – М. : [МИСиС], 1987 . – 262 с. : ил. + Библиогр.: с. 213. - У 64609. Шифр темы 135012. ГР N У28842. (Для служебного пользования).
СП-21760 27:Фонд отчетов ДСП МИСиС
VIII-5 Р-177
Разработка методов улучшения параметров и повышения стойкости полупроводниковых приборов, ИС и БИС с применением лучевых процессов : Отчет о НИР. Промежут. / Н. Н. Горюнов, Н. Н. Горюнов . – М. : [МИСиС], 1987 . – 262 с. : ил. + Библиогр.: с. 213. - У 64609. Шифр темы 135012. ГР N У28842. (Для служебного пользования).
СП-21760 27:Фонд отчетов ДСП МИСиС