Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Финарев, М. С. - Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев
Финарев, М. С. - Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев
Доступно
1 из 1
1 из 1
Автореферат
Автор: Финарев, М. С.
Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев : автореф. дис... к.т.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
Издательство: [МИСиС], 1980 г.
ISBN отсутствует
Автор: Финарев, М. С.
Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев : автореф. дис... к.т.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
Издательство: [МИСиС], 1980 г.
ISBN отсутствует
Автореферат
II-9 Ф-591а
Финарев, М. С.
Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев : автореф. дис... к.т.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков" / М. С. Финарев . – М. : [МИСиС], 1980 . – 22 с. + Библиогр.: с. 20-22. - (Для служебного пользования).
СП-11809 23:Фонд дис.ДСП др.орг.
II-9 Ф-591а
Финарев, М. С.
Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев : автореф. дис... к.т.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков" / М. С. Финарев . – М. : [МИСиС], 1980 . – 22 с. + Библиогр.: с. 20-22. - (Для служебного пользования).
СП-11809 23:Фонд дис.ДСП др.орг.