Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Финарев, М. С. - Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев
Финарев, М. С. - Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев
Доступно
1 из 1
1 из 1
Диссертация
Автор: Финарев, М. С.
Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев : дис... к.т.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
Издательство: [МИСиС], 1979 г.
ISBN отсутствует
Автор: Финарев, М. С.
Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев : дис... к.т.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков"
Издательство: [МИСиС], 1979 г.
ISBN отсутствует
Диссертация
II-9 Ф-591д
Финарев, М. С.
Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев : дис... к.т.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков" / М. С. Финарев, Р. Р. Резвый . – М. : [МИСиС], 1979 . – 168 с. : ил. + Библиогр.: с. 157-168. - (НИИ 'Пульсар').(Для служебного пользования).
СП-11902 23:Фонд дис.ДСП др.орг.
II-9 Ф-591д
Финарев, М. С.
Эллипсометрические методы исследования тонких полупроводниковых слоев : дис... к.т.н., спец. 01.04.10 - "Физика полупроводников и диэлектриков" / М. С. Финарев, Р. Р. Резвый . – М. : [МИСиС], 1979 . – 168 с. : ил. + Библиогр.: с. 157-168. - (НИИ 'Пульсар').(Для служебного пользования).
СП-11902 23:Фонд дис.ДСП др.орг.