Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Рыков, С. А. - Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур

Рыков, С. А. - Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур

Доступно
 5 из 5
Книга
Автор: Рыков, С. А.
Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для студ. вузов напр. 'Техн. физика'
Серия: Новые разделы физики полупроводников
Издательство: Наука, 2001 г.
ISBN 5-02-024956-4

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
II-9 Р-944

Рыков, С. А.
Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур : учеб. пособие для студ. вузов напр. 'Техн. физика' / С. А. Рыков ; общ. ред. В. И. Ильин, А. Я. Шик . – СПб. : Наука, 2001 . – 52 с. : ил. + Библиогр.: с.51 . – (Новые разделы физики полупроводников) . - (Федер. целевая программа 'Гос. поддержка интеграции высш. образования и фундамент. науки на 1997-2000 годы') . - ISBN 5-02-024956-4 .

539.25:621.315(075.8)


152021м 01:Книгохранение
152022м 01:Книгохранение
152023м 01:Книгохранение
152024м 01:Книгохранение
152025м 01:Книгохранение



Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)

Атомарно-силовой микроскоп
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

Сканирующая туннельная микроскопия и локальная туннельная спектроскопия
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167