Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Бублик, В. Т. - Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be+ и Se+ ...

Бублик, В. Т. - Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be+ и Se+ ...

Статья
Автор: Бублик, В. Т.
Кристаллография: Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be+ и Se+ ...
б.г.
ISBN отсутствует

На полку На полку


Статья

Бублик, В. Т.
Исследование дефектообразования в приповерхностных слоях GaAs, имплантированных ионами Be+ и Se+ / Поверхность / В. Т. Бублик, Г. И. Кольцов, А. В. Немировский, С. Ю. Юрчук // Кристаллография . – 2000 . – Т. 45, N 4 . – 753-758 .






Привязано к:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Доступно
 1 из 1
Выпуск

Кристаллография Т. 45, N 4
2000 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167