Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Машин, А. И. - Исследование электронной структуры аморфного кремния и силицина методом рентгеновской спектроскоп...
Машин, А. И. - Исследование электронной структуры аморфного кремния и силицина методом рентгеновской спектроскоп...
Статья
Автор: Машин, А. И.
Физика и техника полупроводников: Исследование электронной структуры аморфного кремния и силицина методом рентгеновской спектроскоп...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Машин, А. И.
Физика и техника полупроводников: Исследование электронной структуры аморфного кремния и силицина методом рентгеновской спектроскоп...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Машин, А. И.
Исследование электронной структуры аморфного кремния и силицина методом рентгеновской спектроскопии / Аморфные, стеклообразные и пористые полупроводники / А. И. Машин, А. Ф. Хохлов, Э. П. Домашевская, В. А. Терехов, Н. И. Машин // Физика и техника полупроводников . – 2001 . – Т. 35, N 8 . – 995-1000 .
Машин, А. И.
Исследование электронной структуры аморфного кремния и силицина методом рентгеновской спектроскопии / Аморфные, стеклообразные и пористые полупроводники / А. И. Машин, А. Ф. Хохлов, Э. П. Домашевская, В. А. Терехов, Н. И. Машин // Физика и техника полупроводников . – 2001 . – Т. 35, N 8 . – 995-1000 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 35, N 8
2001 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 35, N 8
2001 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный