Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Средин, В. Г. - Зависимость состава анодного окисла от кристаллографической ориентации поверхности CdxHg1-xTe / Э...
Средин, В. Г. - Зависимость состава анодного окисла от кристаллографической ориентации поверхности CdxHg1-xTe / Э...
Статья
Автор: Средин, В. Г.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Зависимость состава анодного окисла от кристаллографической ориентации поверхности CdxHg1-xTe / Э...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Средин, В. Г.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Зависимость состава анодного окисла от кристаллографической ориентации поверхности CdxHg1-xTe / Э...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Средин, В. Г.
Зависимость состава анодного окисла от кристаллографической ориентации поверхности CdxHg1-xTe / Эпитаксиальные слои и многослойные композиции / В. Г. Средин, Ю. С. Мезин // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 2000 . – N 1 . – 62-64 .
Средин, В. Г.
Зависимость состава анодного окисла от кристаллографической ориентации поверхности CdxHg1-xTe / Эпитаксиальные слои и многослойные композиции / В. Г. Средин, Ю. С. Мезин // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 2000 . – N 1 . – 62-64 .
Привязано к:
Нет экз.