Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Гриценко, В. А. - Численное моделирование собственных дефектов в SiO2 и Si3N4 / Электронные и оптические свойства п...
Гриценко, В. А. - Численное моделирование собственных дефектов в SiO2 и Si3N4 / Электронные и оптические свойства п...
Статья
Автор: Гриценко, В. А.
Физика и техника полупроводников: Численное моделирование собственных дефектов в SiO2 и Si3N4 / Электронные и оптические свойства п...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Гриценко, В. А.
Физика и техника полупроводников: Численное моделирование собственных дефектов в SiO2 и Si3N4 / Электронные и оптические свойства п...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Гриценко, В. А.
Численное моделирование собственных дефектов в SiO2 и Si3N4 / Электронные и оптические свойства полупроводников / В. А. Гриценко, Ю. Н. Новиков, А. В. Шапошников, Ю. Н. Мороков // Физика и техника полупроводников . – 2001 . – Т. 35, N 9 . – 1041-1049 .
Гриценко, В. А.
Численное моделирование собственных дефектов в SiO2 и Si3N4 / Электронные и оптические свойства полупроводников / В. А. Гриценко, Ю. Н. Новиков, А. В. Шапошников, Ю. Н. Мороков // Физика и техника полупроводников . – 2001 . – Т. 35, N 9 . – 1041-1049 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 35, N 9
2001 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 35, N 9
2001 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный