Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Зотов, Н. М. - Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые...
Зотов, Н. М. - Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые...
Доступно
1 из 1
1 из 1
Автореферат
Автор: Зотов, Н. М.
Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые... : автореф. дис... д.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
Издательство: [МИСиС], 1997 г.
ISBN отсутствует
Автор: Зотов, Н. М.
Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые... : автореф. дис... д.физ.-мат.н., спец. 01.04.10
Издательство: [МИСиС], 1997 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Автореферат
Зотов, Н. М.
Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей : автореф. дис... д.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 / Н. М. Зотов . – М. : [МИСиС], 1997 . – 22 с. + Библиогр.: с. 21-22.
Общий = Материаловедение : полупроводники
Общий = Кристаллография : кристаллы : дефекты
Общий = Химия : неорганическая химия : периодическая система элементов : кремний
110006м 19:Фонд дис.МИСиС
Зотов, Н. М.
Особенности микродефектов в монокристаллах кремния, выращенных по методу Чохральского, выявляемые методом диффузного рассеяния рентгеновских лучей : автореф. дис... д.физ.-мат.н., спец. 01.04.10 / Н. М. Зотов . – М. : [МИСиС], 1997 . – 22 с. + Библиогр.: с. 21-22.
Общий = Материаловедение : полупроводники
Общий = Кристаллография : кристаллы : дефекты
Общий = Химия : неорганическая химия : периодическая система элементов : кремний
110006м 19:Фонд дис.МИСиС