Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Концевой, Ю. А. - Разработка методов контроля и исследование свойств полупроводниковых материалов и структур
Концевой, Ю. А. - Разработка методов контроля и исследование свойств полупроводниковых материалов и структур
Доступно
2 из 2
2 из 2
Автореферат
Автор: Концевой, Ю. А.
Разработка методов контроля и исследование свойств полупроводниковых материалов и структур : автореф. дис... д.т.н., спец. 01.04.10
Издательство: [МИСиС], 1974 г.
ISBN отсутствует
Автор: Концевой, Ю. А.
Разработка методов контроля и исследование свойств полупроводниковых материалов и структур : автореф. дис... д.т.н., спец. 01.04.10
Издательство: [МИСиС], 1974 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Автореферат
К-652асп
Концевой, Ю. А.
Разработка методов контроля и исследование свойств полупроводниковых материалов и структур : автореф. дис... д.т.н., спец. 01.04.10 / Ю. А. Концевой . – М. : [МИСиС], 1974 . – 32 с. - (Для служебного пользования).
Общий = Материаловедение : полупроводники
сп-5628 21:Фонд дис.ДСП МИСиС
СП-5629 21:Фонд дис.ДСП МИСиС
К-652асп
Концевой, Ю. А.
Разработка методов контроля и исследование свойств полупроводниковых материалов и структур : автореф. дис... д.т.н., спец. 01.04.10 / Ю. А. Концевой . – М. : [МИСиС], 1974 . – 32 с. - (Для служебного пользования).
Общий = Материаловедение : полупроводники
сп-5628 21:Фонд дис.ДСП МИСиС
СП-5629 21:Фонд дис.ДСП МИСиС