Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Баринов, Ю. В. - Исследование кинетики термостимулированной релаксации обйемного заряда в окисле SiO2 структур мет...
Баринов, Ю. В. - Исследование кинетики термостимулированной релаксации обйемного заряда в окисле SiO2 структур мет...
Статья
Автор: Баринов, Ю. В.
Физика и техника полупроводников: Исследование кинетики термостимулированной релаксации обйемного заряда в окисле SiO2 структур мет...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Баринов, Ю. В.
Физика и техника полупроводников: Исследование кинетики термостимулированной релаксации обйемного заряда в окисле SiO2 структур мет...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Баринов, Ю. В.
Исследование кинетики термостимулированной релаксации обйемного заряда в окисле SiO2 структур металл-окисел-полупроводник, облученных гамма-квантами 60CO / Ю. В. Баринов, В. Н. Безбородов, В. В. Емельянов, В. С. Першенков // Физика и техника полупроводников . – 1995 . – Т. 29, N 2 . – с. 323-327 .
Баринов, Ю. В.
Исследование кинетики термостимулированной релаксации обйемного заряда в окисле SiO2 структур металл-окисел-полупроводник, облученных гамма-квантами 60CO / Ю. В. Баринов, В. Н. Безбородов, В. В. Емельянов, В. С. Першенков // Физика и техника полупроводников . – 1995 . – Т. 29, N 2 . – с. 323-327 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 29, N 2
1995 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 29, N 2
1995 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный