Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Nemcsics, A. - Defect profiling in semiconductor layers by electrochemical method / Атомная структура и неэлектр...
Nemcsics, A. - Defect profiling in semiconductor layers by electrochemical method / Атомная структура и неэлектр...
Статья
Автор: Nemcsics, A.
Физика и техника полупроводников: Defect profiling in semiconductor layers by electrochemical method / Атомная структура и неэлектр...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Nemcsics, A.
Физика и техника полупроводников: Defect profiling in semiconductor layers by electrochemical method / Атомная структура и неэлектр...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Nemcsics, A.
Defect profiling in semiconductor layers by electrochemical method / Атомная структура и неэлектронные свойства полупроводников / A. Nemcsics, J. P. Makai // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2003 . – Т. 37, N 6 . – с. 657-660 .
Nemcsics, A.
Defect profiling in semiconductor layers by electrochemical method / Атомная структура и неэлектронные свойства полупроводников / A. Nemcsics, J. P. Makai // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2003 . – Т. 37, N 6 . – с. 657-660 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 37, N 6
Наука, 2003 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 37, N 6
Наука, 2003 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный