Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Дунаевский, М. С.
Визуализация заращенных наноостровков GeSi в кремниевых структурах методом атомно-силовой микроскопии на сколах / Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность / М. С. Дунаевский, З. Ф. Красильник, Д. Н. Лобанов, А. В. Новиков, А. Н. Титков, R. Laiho // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2003 . – Т. 37, N 6 . – с. 692-699 .