Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Попов, Н. Л.
Определение параметров многослойных наноструктур с помощью двухволновой рентгеновской рефлектометрии / Низкоразмерные системы / Н. Л. Попов, Ю. А. Успенский, А. Г. Турьянский, И. В. Пиршин, А. В. Виноградов, Ю. Я. Платонов // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2003 . – Т. 37, N 6 . – с. 700-705 .