Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Болтарь, К. О. - Определение параметров слоистых полупроводниковых структур методом ИК отражения
Болтарь, К. О. - Определение параметров слоистых полупроводниковых структур методом ИК отражения
Статья
Автор: Болтарь, К. О.
Физика и техника полупроводников: Определение параметров слоистых полупроводниковых структур методом ИК отражения
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Болтарь, К. О.
Физика и техника полупроводников: Определение параметров слоистых полупроводниковых структур методом ИК отражения
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Болтарь, К. О.
Определение параметров слоистых полупроводниковых структур методом ИК отражения / К. О. Болтарь, В. А. Федирко // Физика и техника полупроводников . – 1996 . – Т. 30, N 11 . – с. 1993-2001 .
Болтарь, К. О.
Определение параметров слоистых полупроводниковых структур методом ИК отражения / К. О. Болтарь, В. А. Федирко // Физика и техника полупроводников . – 1996 . – Т. 30, N 11 . – с. 1993-2001 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 30, N 11
1996 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 30, N 11
1996 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный