Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Белоусов, П. С. - Диагностика буферных слоев многослойных эпитаксиальных структур из GaAs методом фотолюминесценции
Белоусов, П. С. - Диагностика буферных слоев многослойных эпитаксиальных структур из GaAs методом фотолюминесценции
Статья
Автор: Белоусов, П. С.
Физика и техника полупроводников: Диагностика буферных слоев многослойных эпитаксиальных структур из GaAs методом фотолюминесценции
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Белоусов, П. С.
Физика и техника полупроводников: Диагностика буферных слоев многослойных эпитаксиальных структур из GaAs методом фотолюминесценции
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Белоусов, П. С.
Диагностика буферных слоев многослойных эпитаксиальных структур из GaAs методом фотолюминесценции / П. С. Белоусов, В. И. Гурошев, А. С. Тагер, Ю. Ю. Федоров // Физика и техника полупроводников . – 1996 . – Т. 30, N 12 . – с. 2208-2214 .
Белоусов, П. С.
Диагностика буферных слоев многослойных эпитаксиальных структур из GaAs методом фотолюминесценции / П. С. Белоусов, В. И. Гурошев, А. С. Тагер, Ю. Ю. Федоров // Физика и техника полупроводников . – 1996 . – Т. 30, N 12 . – с. 2208-2214 .