Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Воронков, В. Б. - Контроль качества интерфейса методом лазерного сканирования при прямом сращивании кремниевых пластин
Воронков, В. Б. - Контроль качества интерфейса методом лазерного сканирования при прямом сращивании кремниевых пластин
Статья
Автор: Воронков, В. Б.
Физика и техника полупроводников: Контроль качества интерфейса методом лазерного сканирования при прямом сращивании кремниевых пластин
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Воронков, В. Б.
Физика и техника полупроводников: Контроль качества интерфейса методом лазерного сканирования при прямом сращивании кремниевых пластин
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Воронков, В. Б.
Контроль качества интерфейса методом лазерного сканирования при прямом сращивании кремниевых пластин / В. Б. Воронков, И. В. Грехов, В. А. Козлов // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 1991 . – Т. 25, N 2 . – с. 208-216 .
Воронков, В. Б.
Контроль качества интерфейса методом лазерного сканирования при прямом сращивании кремниевых пластин / В. Б. Воронков, И. В. Грехов, В. А. Козлов // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 1991 . – Т. 25, N 2 . – с. 208-216 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 25, N 2
Наука, 1991 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 25, N 2
Наука, 1991 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСИС : Научный