Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бублик, В. Т. - Изучение методом рентгеновской дифрактометрии влияния дислокаций на характер дефектной структуры ...
Бублик, В. Т. - Изучение методом рентгеновской дифрактометрии влияния дислокаций на характер дефектной структуры ...
Статья
Автор: Бублик, В. Т.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Изучение методом рентгеновской дифрактометрии влияния дислокаций на характер дефектной структуры ...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Бублик, В. Т.
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники: Изучение методом рентгеновской дифрактометрии влияния дислокаций на характер дефектной структуры ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Бублик, В. Т.
Изучение методом рентгеновской дифрактометрии влияния дислокаций на характер дефектной структуры в кристаллах GaAs, имплантированных ионами Si / Атомная структура и методы структурных исследований / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, Ю. Ф. Труш, С. Б. Евгеньев // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 2001 . – N 3 . – с. 65-69 .
Бублик, В. Т.
Изучение методом рентгеновской дифрактометрии влияния дислокаций на характер дефектной структуры в кристаллах GaAs, имплантированных ионами Si / Атомная структура и методы структурных исследований / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, Ю. Ф. Труш, С. Б. Евгеньев // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники . – 2001 . – N 3 . – с. 65-69 .
Привязано к:
Нет экз.