Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Кольченко, Т. И.
Диагностика эпитаксиальных слоев GaAs, выращенных на кремниевых подложках, методами фотолюминесценции и емкостной спектроскопии / Т. И. Кольченко, В. М. Ломако, С. Е. Мороз, О. А. Пономарева, В. В. Сергеева, И. Н. Цыпленков // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 1991 . – Т. 25, N 9 . – с. 1574-1578 .