Электронный каталог библиотеки МИСИС

👓
eng|rus
Библиотека МИСИС
Режим работы:
Читальный зал Пн-Пт 10:00-18:00
Абонементы Пн-Чт 10:00-17:00,
Пт 10:00-16:00
Обед 12:00-13:00
В период каникул Вт, Чт 14:00-16:00
сайт: lib.misis.ru
e-mail: swt@ntb.misis.ru

Поиск :

  • Новые поступления
  • Расширенный поиск
  • Поиск одной строкой
  • Дискавери

  • Авторы
  • Издательства
  • Серии
  • Тезаурус (Рубрики)
  • Публичные полки

  • Учебная литература:
    • По дисциплинам
    • По специальностям
    • По специализациям
    • По кафедрам
    • Список дисциплин

  • Информация о фонде

  • · Журналы
  • · Электронная библиотека МИСИС
  • · Другие электронные учебники
  • · Все электронные ресурсы

  • Помощь

Личный кабинет :


Электронный каталог: Брандон, Д. - Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

Брандон, Д. - Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

Доступно
 28 из 28
Книга
Автор: Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие для студ. напр. 'Прикладные математика и физика': пер. с англ.
Серия: Мир материалов и технологий
Издательство: Техносфера, 2004 г.
ISBN отсутствует

Заказать Заказать

На полку На полку


Книга
VIII-5 621.315 Б-874

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие для студ. напр. 'Прикладные математика и физика': пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан ; ред. С. Л. Баженов, С. В. Егорова . – М. : Техносфера, 2004 . – 377 с. : ил. + Библиогр. в конце глав . – (Мир материалов и технологий) . - ISBN 5-948360-18-0 : руб. 290.00 .

621.315.592:548.73(075.8)

Общий = Материаловедение : исследования структуры материалов
Грифы = 1: Без грифа
Дисциплины = Б1 Дисциплины (модули) : Вариативная часть : Методы исследования физических свойств полупроводниковых структур

658228 01:Книгохранение
658229 01:Книгохранение
658230 01:Книгохранение
658470 01:Книгохранение
662119 01:Книгохранение
02:ООУЛ - 23 экз.



Связанные описания:

Отобрать для печати: страницу | инверсия | сброс | печать(0)

Книга (аналит. описание)

7. Количественный анализ микроструктуры
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

6. Химический анализ поверхности
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

5. Микроанализ в электронной микроскопии
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

4. Электронная микроскопия
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

3. Оптическая микроскопия
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

2. Дифракционный анализ кристаллической структуры
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


Книга (аналит. описание)

1. Микроструктура
б.г.
ISBN отсутствует


На полку На полку


© Все права защищены ООО "Компания Либэр" , 2009 - 2025  v.20.167