Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Дунаевский, М. С.
АСМ визуализация нанокристаллов Si в термическом окисле SiO2 с помощью селективного травления / Атомная структура и неэлектронные свойства полупроводников / М. С. Дунаевский, J. J. Grob, А. Г. Забродский, R. Laino, А. Н. Титков // Физика и техника полупроводников . – Издается с января 1967 года . – 2004 . – Т. 38, N 11 . – с. 1294-1300 .