Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Образцов, А. Н. - Сравнительное исследование оптических свойств пористого кремния и оксидов SiO и SiO2 / Аморфные, ...
Образцов, А. Н. - Сравнительное исследование оптических свойств пористого кремния и оксидов SiO и SiO2 / Аморфные, ...
Статья
Автор: Образцов, А. Н.
Физика и техника полупроводников: Сравнительное исследование оптических свойств пористого кремния и оксидов SiO и SiO2 / Аморфные, ...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Образцов, А. Н.
Физика и техника полупроводников: Сравнительное исследование оптических свойств пористого кремния и оксидов SiO и SiO2 / Аморфные, ...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Образцов, А. Н.
Сравнительное исследование оптических свойств пористого кремния и оксидов SiO и SiO2 / Аморфные, стеклообразные и пористые полупроводники / А. Н. Образцов, В. Ю. Тимошенко, Х. Окиши, Х. Ватанабе // Физика и техника полупроводников . – 1999 . – Т. 33, N 3 . – 322-326 .
Образцов, А. Н.
Сравнительное исследование оптических свойств пористого кремния и оксидов SiO и SiO2 / Аморфные, стеклообразные и пористые полупроводники / А. Н. Образцов, В. Ю. Тимошенко, Х. Окиши, Х. Ватанабе // Физика и техника полупроводников . – 1999 . – Т. 33, N 3 . – 322-326 .
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
Физика и техника полупроводников Т. 33, N 3
1999 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный
Физика и техника полупроводников Т. 33, N 3
1999 г.
ISBN отсутствует
Библиотека МИСиС : Научный