Электронный каталог библиотеки МИСИС

Статья

Аргунова, Т. С.
Структурные исследования монокристаллов Si1-xGex рентгенодифракционными методами / Полупроводники. Диэлектрики / Т. С. Аргунова, М. Ю. Гуткин, А. Г. Забродский, Л. М. Сорокин, А. С. Трегубова, М. П. Щеглов, Н. В. Абросимов, J. H. Je, J. M. Yi // Физика твердого тела . – Основан в январе 1959 г . – 2005 . – Т. 47, N 7 . – с. 1184-1191 .